Microscope métallurgique droit de recherche BS-6024TRF
BS-6024TRF
Introduction
Les microscopes métallurgiques droits de la série BS-6024 ont été développés pour la recherche avec un certain nombre de conceptions pionnières en termes d'apparence et de fonctions, avec un large champ de vision, une haute définition et des objectifs métallurgiques semi-apochromatiques à champ clair/sombre et un système d'exploitation ergonomique, ils sont nés pour fournir une solution de recherche parfaite et développer un nouveau modèle de domaine industriel.
Caractéristiques
1. Excellent système optique infini.
Grâce à l'excellent système optique infini, le microscope métallurgique droit de la série BS-6024 fournit des images haute résolution, haute définition et corrigées par aberration chromatique qui pourraient très bien afficher les détails de votre spécimen.
2. Conception modulaire.
Les microscopes de la série BS-6024 ont été conçus avec une modularité pour répondre à diverses applications industrielles et scientifiques des matériaux.Il donne aux utilisateurs la possibilité de créer un système répondant à des besoins spécifiques.
3. Fonction ÉCO.
La lumière du microscope s’éteindra automatiquement 15 minutes après le départ des opérateurs.Cela permet non seulement d'économiser de l'énergie, mais également de prolonger la durée de vie de la lampe.
4. Confortable et facile à utiliser.
(1) Objectifs Semi-APO et APO du plan infini NIS45.
Grâce à son verre hautement transparent et à sa technologie de revêtement avancée, l'objectif NIS45 peut fournir des images haute résolution et reproduire avec précision la couleur naturelle des spécimens.Pour les applications spéciales, une variété d’objectifs est disponible, notamment polarisants et longue distance de travail.
(2) Nomarski DIC.
Avec le module DIC nouvellement conçu, la différence de hauteur d'un spécimen qui ne peut pas être détectée en fond clair devient une image en relief ou en 3D.Il est idéal pour l'observation des particules conductrices LCD et des rayures de surface du disque dur, etc.
(3) Système de mise au point.
Afin d'adapter le système aux habitudes de fonctionnement des opérateurs, le bouton de mise au point et de scène peut être réglé vers la gauche ou vers la droite.Cette conception rend l'opération plus confortable.
(4) Tête trinoculaire ergonomique inclinable.
Le tube oculaire peut être réglable de 0 ° à 35 ° ， Le tube trinoculaire peut être connecté à un appareil photo reflex numérique et à un appareil photo numérique, doté d'un séparateur de faisceau à 3 positions (0:100, 100:0, 80:20), la barre de séparation peut être assemblé de chaque côté selon les exigences de l'utilisateur.
5. Diverses méthodes d'observation.
Fond noir (plaquette)
Darkfield permet l'observation de la lumière diffusée ou diffractée du spécimen.Tout ce qui n'est pas plat reflète cette lumière tandis que tout ce qui est plat apparaît sombre, ce qui fait ressortir clairement les imperfections.L'utilisateur peut identifier l'existence même d'une infime rayure ou d'un défaut jusqu'au niveau de 8 nm, soit plus petit que la limite de pouvoir de résolution d'un microscope optique.Darkfield est idéal pour détecter des rayures ou des défauts infimes sur un échantillon et examiner des échantillons de surface de miroir, y compris des plaquettes.
Contraste d'interférence différentielle (particules conductrices)
DIC est une technique d'observation microscopique dans laquelle la différence de hauteur d'un spécimen non détectable en fond clair devient une image en relief ou en trois dimensions avec un contraste amélioré.Cette technique utilise une lumière polarisée et peut être personnalisée avec un choix de trois prismes spécialement conçus.Il est idéal pour examiner des échantillons présentant des différences de hauteur très minimes, notamment des structures métallurgiques, des minéraux, des têtes magnétiques, des supports de disque dur et des surfaces de plaquettes polies.
Observation de la lumière transmise (LCD)
Pour les échantillons transparents tels que les écrans LCD, les plastiques et les matériaux en verre, l'observation par lumière transmise est disponible en utilisant une variété de condenseurs.L’examen des échantillons en fond clair transmis et en lumière polarisée peut être réalisé dans un seul système pratique.
Lumière polarisée (amiante)
Cette technique d'observation microscopique utilise la lumière polarisée générée par un ensemble de filtres (analyseur et polariseur).Les caractéristiques de l’échantillon affectent directement l’intensité de la lumière réfléchie à travers le système.Il convient aux structures métallurgiques (c'est-à-dire le modèle de croissance du graphite sur la fonte nodulaire), aux minéraux, aux écrans LCD et aux matériaux semi-conducteurs.
Application
Les microscopes de la série BS-6024 sont largement utilisés dans les instituts et les laboratoires pour observer et identifier la structure de divers métaux et alliages. Ils peuvent également être utilisés dans l'industrie électronique, chimique et des semi-conducteurs, tels que les plaquettes, la céramique, les circuits intégrés, les puces électroniques, les imprimés. cartes de circuits imprimés, panneaux LCD, films, poudres, toners, fils, fibres, revêtements plaqués, autres matériaux non métalliques, etc.
spécification
| Article | spécification | BS-6024RF | BS-6024TRF | |
| Système optique | Système optique à correction de couleur infinie NIS45 (longueur du tube : 200 mm) | ● | ● | |
| Tête de visualisation | Tête trinoculaire inclinable Ergo, inclinée réglable de 0 à 35°, distance interpupillaire de 47 mm à 78 mm ;rapport de division Oculaire : Trinoculaire = 100:0 ou 20:80 ou 0:100 | ● | ● | |
| Tête trinoculaire Seidentopf, inclinée à 30°, distance interpupillaire : 47 mm-78 mm ;rapport de division Oculaire : Trinoculaire = 100:0 ou 20:80 ou 0:100 | ○ | ○ | ||
| Tête binoculaire Seidentopf, inclinée à 30°, distance interpupillaire : 47 mm-78 mm | ○ | ○ | ||
| Oculaire | Oculaire à champ très large SW10X/25 mm, dioptrie réglable | ● | ● | |
| Oculaire à champ très large SW10X/22 mm, dioptrie réglable | ○ | ○ | ||
| Oculaire à champ extra large EW12,5X/16 mm, dioptrie réglable | ○ | ○ | ||
| Oculaire à champ large WF15X/16 mm, dioptrie réglable | ○ | ○ | ||
| Oculaire à champ large WF20X/12 mm, dioptrie réglable | ○ | ○ | ||
| Objectif | Objectif semi-APO du plan NIS45 Infinite LWD (BF et DF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ● | ● | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ● | ● | ||
| Objectif APO du plan LWD infini NIS45 (BF et DF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ● | ● | ||
| Objectif semi-APO (BF) du plan NIS60 Infinite LWD | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ○ | ○ | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ○ | ○ | ||
| Objectif APO (BF) du plan LWD infini NIS60 | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ○ | ○ | ||
| Embout nasal
| Nez sextuple arrière (avec emplacement DIC) | ● | ● | |
| Condenseur | Condenseur LWD NA0,65 | ○ | ● | |
| Éclairage transmis | Lampe halogène 24V/100W, éclairage Kohler, avec filtre ND6/ND25 | ○ | ● | |
| Lampe S-LED 3W, préréglée au centre, intensité réglable | ○ | ○ | ||
| Éclairage réfléchi | Lampe halogène à lumière réfléchie 24V/100W, éclairage Koehler, avec tourelle 6 positions | ● | ● | |
| Maison de lampe halogène 100W | ● | ● | ||
| Lumière réfléchie avec lampe LED 5W, éclairage Koehler, avec tourelle 6 positions | ○ | ○ | ||
| Module de champ clair BF1 | ○ | ○ | ||
| Module de champ clair BF2 | ● | ● | ||
| Module de champ sombre DF | ● | ● | ||
| Filtre ND6, ND25 et filtre de correction des couleurs intégrés | ○ | ○ | ||
| Fonction ÉCO | Fonction ECO avec bouton ECO | ● | ● | |
| Mise au point | Mise au point coaxiale grossière et fine en position basse, division fine 1 μm, plage de déplacement 35 mm | ● | ● | |
| Max.Hauteur du spécimen | 76mm | ● |
| |
| 56mm |
| ● | ||
| Scène | Scène mécanique double couche, taille 210 mm x 170 mm ;plage de déplacement 105 mm x 105 mm (poignée droite ou gauche) ;précision : 1 mm ;avec une surface oxydée dure pour éviter l'abrasion, la direction Y peut être verrouillée | ● | ● | |
| Support de plaquette : peut être utilisé pour contenir une plaquette de 2", 3", 4" | ○ | ○ | ||
| Kit CIB | Kit DIC pour éclairage réfléchi (peut être utilisé pour les objectifs 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
| Kit polarisant | Polariseur pour éclairage réfléchi | ○ | ○ | |
| Analyseur d'éclairage réfléchi, 0-360°rotatif | ○ | ○ | ||
| Polariseur pour illumination transmise |
| ○ | ||
| Analyseur d'éclairage transmis |
| ○ | ||
| Autres accessoires | Adaptateur à monture C 0,5X | ○ | ○ | |
| 1X adaptateur à monture C | ○ | ○ | ||
| Housse de protection | ● | ● | ||
| Cordon d'alimentation | ● | ● | ||
| Lame d'étalonnage 0,01 mm | ○ | ○ | ||
| Presse-échantillon | ○ | ○ | ||
Remarque : ●Tenue standard, ○Facultatif
Diagramme système
Dimension
BS-6024RF
BS-6024TRF
Unité : mm
Certificat
Logistique
