Microscope métallurgique de laboratoire BS-6022TRF
BS-6022TRF
Introduction
Les microscopes métallurgiques BS-6022RF/TRF sont des microscopes professionnels de haut niveau spécialement conçus pour l'analyse métallurgique.Avec un excellent système optique, un support ingénieux et un fonctionnement pratique, ils seront votre meilleur choix.L'accessoire d'observation DIC est facultatif pour ces microscopes afin de répondre à certaines exigences particulières.
Caractéristiques
1. Microscope métallurgique de laboratoire, comprenant un système d'observation en champ clair, en champ sombre et en polarisation, la fixation DIC est également facultative.
2. Système transmis et réfléchi puissant avec éclairage Kohler.
3. Instrument idéal pour l'analyse métallurgique, l'inspection industrielle et la recherche scientifique.
Application
Les BS-6022RF/TRF sont largement utilisés dans les instituts et les laboratoires pour observer et identifier la structure de divers métaux et alliages. Ils peuvent également être largement utilisés dans l'industrie électronique, chimique et de l'instrumentation, pour observer les matériaux opaques et transparents, tels que le métal, céramiques, circuits intégrés, puces électroniques, cartes de circuits imprimés, panneaux LCD, films, poudres, toners, fils, fibres, revêtements plaqués et autres matériaux non métalliques, etc.
spécification
Article | spécification | BS-6022RF | BS-6022TRF |
Système optique | Système optique infini | ● | ● |
Tête de visualisation | Tête de visualisation trinoculaire Siedentopf, inclinée à 30°, distance interpupillaire 48mm-75mm | ● | ● |
Oculaire | Oculaire à champ extra large EW10×/22mm, tube oculaireΦ30mm | ● | ● |
Objectif Achromatique Plan Infini | 5×/ 0,12/∞/ - (BF&DF) WD 12mm | ● | ● |
10×/ 0,25/∞/ - (BF&DF) WD 10,0 mm | ● | ● | |
20×/ 0,4/∞/ 0 (BF&DF) WD 4,3 mm | ● | ● | |
40×/ 0,65/∞/ 0,17WD 0,54 mm | ● | ||
100×/ 1.25/∞/ 0,17WD 0,13 mm | ● | ||
40×/ 0,6/∞/ 0 (BF&DF) WD 2,9 mm | ○ | ○ | |
50×/ 0,75/∞/ 0 (BF&DF) WD 0,32 mm | ● | ● | |
100×/ 0,8/∞/ 0 (BF&DF) WD 2mm | ● | ● | |
CIVDPièce jointe | 20×, 100× | ○ | ○ |
Hauteur maximale de l'échantillon | 30mm | ● | |
50mm | ● | ||
Lumière réfléchie | Lampe halogène 24 V/100 W, luminosité réglable. | ● | ● |
Éclairage Kohler et condenseur asphérique | ● | ● | |
Polariseur et analyseur | ○ | ○ | |
Un dispositif intégré pour polariseur et analyseur | ○ | ○ | |
Bleu, vert, jaune etVerre dépolifiltre | ● | ● | |
Lumière transmise | Condenseur pivotant NA0,9/ 0,25 | ● | |
Lampe halogène 24V/100W et condensateur asphérique | ● | ||
Filtre bleu | ● | ||
Filtre | ND25, ND6 | ○ | ○ |
Mise au point | Réglage coaxial grossier et fin, division fine 0,001 mm, course grossière 37,7 mm par rotation, course fine 0,1 mm par rotation, plage de déplacement30mm | ● | ● |
Embout nasal | Nez quintuple arrière | ● | ● |
Scène | Platine mécanique double couche (sans trou) 186×138mm/74mm×50mm | ● | |
Etage mécanique double couche 186×138mm/74mm×50mm | ● | ||
Plaque de préparation d'échantillons en verre | ○ | ○ | |
Plaque de préparation des échantillons | ● | ||
Verre coulissant | ● | ||
Accessoires | Presse-échantillon | ○ | ○ |
Photo jointe | ○ | ○ | |
Pièce jointe vidéo, C-Mont 1×, 0,5× | ○ | ○ | |
Micromètre de scène 0,01 mm | ○ | ○ |
Note:●tenue standard,○Facultatif
Accessoire
Presse-échantillon
Pièce jointe CIB
Exemple d'image
Certificat
Logistique