Microscope d'inspection de plaquettes industrielles trinoculaires BS-4020A
Introduction
Le microscope d'inspection industriel BS-4020A a été spécialement conçu pour l'inspection de tranches de différentes tailles et de grands PCB.Ce microscope peut offrir une expérience d'observation fiable, confortable et précise.Avec une structure parfaitement réalisée, un système optique haute définition et un système d'exploitation ergonomique, le BS-4020 réalise une analyse professionnelle et répond à divers besoins de recherche et d'inspection de plaquettes, FPD, boîtiers de circuits imprimés, PCB, science des matériaux, moulage de précision, métallocéramique, moule de précision, semi-conducteur et électronique, etc.
1. Système d’éclairage microscopique parfait.
Le microscope est livré avec un éclairage Kohler, fournit un éclairage lumineux et uniforme dans tout le champ de vision.Coordonnée avec le système optique infini NIS45, un objectif NA et LWD élevé, une imagerie microscopique parfaite peut être fournie.
Caractéristiques
Champ lumineux d'éclairage réfléchi
BS-4020A adopte un excellent système optique infini.Le champ de vision est uniforme, lumineux et offre un haut degré de reproduction des couleurs.Il convient d'observer des échantillons de semi-conducteurs opaques.
Terrain sombre
Il peut réaliser des images haute définition lors de l'observation en champ sombre et effectuer une inspection à haute sensibilité des défauts tels que les fines rayures.Il convient à l’inspection de surface d’échantillons très exigeants.
Champ lumineux de l'éclairage transmis
Pour les échantillons transparents, tels que les FPD et les éléments optiques, l'observation en champ clair peut être réalisée par un condenseur de lumière transmise.Il peut également être utilisé avec DIC, polarisation simple et autres accessoires.
Polarisation simple
Cette méthode d'observation convient aux échantillons de biréfringence tels que les tissus métallurgiques, les minéraux, les écrans LCD et les matériaux semi-conducteurs.
Éclairage réfléchi DIC
Cette méthode est utilisée pour observer de petites différences dans les moules de précision.La technique d'observation peut montrer la petite différence de hauteur qui ne peut pas être vue par une méthode d'observation ordinaire sous forme de gaufrage et d'images tridimensionnelles.
2. Objectifs de champ lumineux et de champ sombre Semi-APO et APO de haute qualité.
En adoptant la technologie de revêtement multicouche, les objectifs Semi-APO et APO des séries NIS45 peuvent compenser l'aberration sphérique et l'aberration chromatique de l'ultraviolet au proche infrarouge.La netteté, la résolution et le rendu des couleurs des images peuvent être garantis.L'image avec une image haute résolution et plate pour différents grossissements peut être obtenue.
3. Le panneau de commande se trouve à l’avant du microscope, pratique à utiliser.
Le panneau de commande du mécanisme est situé à l'avant du microscope (près de l'opérateur), ce qui rend l'opération plus rapide et plus pratique lors de l'observation de l'échantillon.Et cela peut réduire la fatigue causée par une observation de longue durée et la poussière flottante apportée par une grande amplitude de mouvement.
4. Tête de visualisation trinoculaire inclinable Ergo.
La tête de visualisation inclinable Ergo peut rendre l'observation plus confortable, de manière à minimiser la tension musculaire et l'inconfort provoqués par de longues heures de travail.
5. Mécanisme de mise au point et poignée de réglage fin de la scène avec position basse des mains.
Le mécanisme de mise au point et la poignée de réglage fin de la scène adoptent la conception en position basse de la main, conforme à la conception ergonomique.Les utilisateurs n'ont pas besoin de lever la main lors de l'utilisation, ce qui donne le plus grand sentiment de confort.
6. La scène est dotée d'une poignée d'embrayage intégrée.
La poignée d'embrayage peut réaliser le mode de mouvement rapide et lent de la scène et localiser rapidement des échantillons de grande surface.Il ne sera plus difficile de localiser les échantillons rapidement et avec précision lors de leur utilisation avec la poignée de réglage fin de la platine.
7. La platine surdimensionnée (14" x 12") peut être utilisée pour les grandes plaquettes et les PCB.
Les zones d'échantillons de microélectronique et de semi-conducteurs, en particulier les plaquettes, ont tendance à être vastes, de sorte que les platines de microscope métallographique ordinaires ne peuvent pas répondre à leurs besoins d'observation.Le BS-4020A possède une platine surdimensionnée avec une large plage de mouvement, et elle est pratique et facile à déplacer.C'est donc un instrument idéal pour l'observation microscopique d'échantillons industriels sur de grandes surfaces.
8. Le porte-plaquettes de 12 pouces est livré avec le microscope.
Des plaquettes de 12 pouces et des plaquettes de plus petite taille peuvent être observées avec ce microscope, avec une poignée de scène à mouvement rapide et fin, il peut considérablement améliorer l'efficacité du travail.
9. La housse de protection antistatique peut réduire la poussière.
Les échantillons industriels doivent être éloignés de la poussière flottante, et un peu de poussière peut affecter la qualité du produit et les résultats des tests.Le BS-4020A dispose d'une grande surface de protection antistatique, qui peut empêcher la poussière flottante et la poussière de tomber afin de protéger les échantillons et de rendre le résultat du test plus précis.
10. Distance de travail plus longue et objectif NA élevé.
Les composants électroniques et les semi-conducteurs sur les échantillons de circuits imprimés présentent une différence de hauteur.Par conséquent, des objectifs à longue distance de travail ont été adoptés sur ce microscope.Parallèlement, afin de satisfaire les exigences élevées des échantillons industriels en matière de reproduction des couleurs, la technologie de revêtement multicouche a été développée et améliorée au fil des années et les objectifs semi-APO et APO BF&DF avec une NA élevée sont adoptés, ce qui peut restaurer la couleur réelle des échantillons. .
11. Diverses méthodes d'observation peuvent répondre à diverses exigences de test.
| Éclairage | Champ lumineux | Terrain sombre | CIVD | Lumière fluorescente | Lumière polarisée |
| Éclairage réfléchi | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
| Éclairage transmis | ○ | - | - | - | ○ |
Application
Le microscope d'inspection industrielle BS-4020A est un instrument idéal pour l'inspection de tranches de différentes tailles et de grands PCB.Ce microscope peut être utilisé dans les universités, les usines d'électronique et de puces pour la recherche et l'inspection des plaquettes, des FPD, des circuits imprimés, des PCB, de la science des matériaux, du moulage de précision, des métallocéramiques, des moules de précision, des semi-conducteurs et de l'électronique, etc.
spécification
| Article | spécification | BS-4020A | BS-4020B | |
| Système optique | Système optique à correction de couleur infinie NIS45 (longueur du tube : 200 mm) | ● | ● | |
| Tête de visualisation | Tête trinoculaire inclinable Ergo, inclinée réglable de 0 à 35°, distance interpupillaire de 47 mm à 78 mm ;rapport de division Oculaire : Trinoculaire = 100:0 ou 20:80 ou 0:100 | ● | ● | |
| Tête trinoculaire Seidentopf, inclinée à 30°, distance interpupillaire : 47 mm-78 mm ;rapport de division Oculaire : Trinoculaire = 100:0 ou 20:80 ou 0:100 | ○ | ○ | ||
| Tête binoculaire Seidentopf, inclinée à 30°, distance interpupillaire : 47 mm-78 mm | ○ | ○ | ||
| Oculaire | Oculaire à champ très large SW10X/25 mm, dioptrie réglable | ● | ● | |
| Oculaire à champ très large SW10X/22 mm, dioptrie réglable | ○ | ○ | ||
| Oculaire à champ extra large EW12,5X/17,5 mm, dioptrie réglable | ○ | ○ | ||
| Oculaire à champ large WF15X/16 mm, dioptrie réglable | ○ | ○ | ||
| Oculaire à champ large WF20X/12 mm, dioptrie réglable | ○ | ○ | ||
| Objectif | Objectif semi-APO plan infini LWD NIS45 (BF et DF), M26 | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ● | ● | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ● | ● | ||
| Objectif APO du plan LWD infini NIS45 (BF et DF), M26 | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ● | ● | ||
| Objectif semi-APO (BF) du plan LWD infini NIS60, M25 | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ○ | ○ | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ○ | ○ | ||
| Objectif APO (BF) du plan LWD infini NIS60, M25 | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ○ | ○ | ||
| Embout nasal | Nez sextuple arrière (avec emplacement DIC) | ● | ● | |
| Condenseur | Condenseur LWD NA0,65 | ○ | ● | |
| Éclairage transmis | Alimentation LED 40W avec guide de lumière à fibre optique, intensité réglable | ○ | ● | |
| Éclairage réfléchi | Lampe halogène à lumière réfléchie 24V/100W, éclairage Koehler, avec tourelle 6 positions | ● | ● | |
| Maison de lampe halogène 100W | ● | ● | ||
| Lumière réfléchie avec lampe LED 5W, éclairage Koehler, avec tourelle 6 positions | ○ | ○ | ||
| Module de champ clair BF1 | ● | ● | ||
| Module de champ clair BF2 | ● | ● | ||
| Module de champ sombre DF | ● | ● | ||
| Filtre ND6, ND25 et filtre de correction des couleurs intégrés | ○ | ○ | ||
| Fonction ÉCO | Fonction ECO avec bouton ECO | ● | ● | |
| Mise au point | Mise au point coaxiale grossière et fine en position basse, division fine 1 μm, plage de déplacement 35 mm | ● | ● | |
| Scène | Platine mécanique à 3 couches avec poignée d'embrayage, taille 14" x 12" (356 mm x 305 mm) ;plage de déplacement 356 mm x 305 mm ;Zone d'éclairage pour la lumière transmise : 356x284mm. | ● | ● | |
| Porte-plaquette : peut être utilisé pour contenir une plaquette de 12 pouces | ● | ● | ||
| Kit CIB | Kit DIC pour éclairage réfléchi (peut être utilisé pour les objectifs 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
| Kit polarisant | Polariseur pour éclairage réfléchi | ○ | ○ | |
| Analyseur d'éclairage réfléchi, rotatif de 0 à 360° | ○ | ○ | ||
| Polariseur pour illumination transmise | ○ | ○ | ||
| Analyseur d'éclairage transmis | ○ | ○ | ||
| Autres accessoires | Adaptateur à monture C 0,5X | ○ | ○ | |
| 1X adaptateur à monture C | ○ | ○ | ||
| Housse de protection | ● | ● | ||
| Cordon d'alimentation | ● | ● | ||
| Lame d'étalonnage 0,01 mm | ○ | ○ | ||
| Presse-échantillon | ○ | ○ | ||
Remarque : ● Tenue standard, ○ En option
Exemple d'image
Dimension
Unité : mm
Diagramme système
Certificat
Logistique
